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探針電子測試方面

[原創(chuàng)內(nèi)容] 發(fā)布于:2014-05-07 10:33:17 閱讀:2429次 編輯:思誠市場部

探針電子測試方面

測試針,用于測試PCBA的一種探針。

表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。

目前國外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT,INGUN,

探針的材質(zhì):W,ReW,CU、 A+

1.目前主要采用的材質(zhì)為W,ReW, 彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長,壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長。

探針分類

探針根據(jù)電子測試用途可分為:A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高,因為其穿透性本來就很強,一般用于OSP處理過的PCBA測試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長.

10.汽車線束測試測試探針

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測,直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.

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