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蔡司三坐標接觸式測頭與光學(xué)測頭的區(qū)別

[原創(chuàng)內(nèi)容] 發(fā)布于:2021-08-10 11:14:28 閱讀:1659次 編輯:思誠市場部
近年來流行著一些帶有誤導(dǎo)性的宣傳,導(dǎo)致部分用戶對光學(xué)掃描測頭有過高的期待,例如“用光學(xué)測頭一掃,零件的所有尺寸都出來了”等等,這對光學(xué)測頭實際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來說,接觸式與光學(xué)測頭之間主要是相互補充的關(guān)系,而非競爭。 那接觸式和光學(xué)測頭究竟在哪些方面可以實現(xiàn)互補呢?這一點還需從光學(xué)測頭的種類說起。三維光學(xué)測頭有不同的分類,比如點光源、線光源、面光源,不同的測頭其應(yīng)用場合有顯著區(qū)別。我們將光學(xué)測頭的應(yīng)用大致分成兩類:表面數(shù)字化和三維測量。有人不禁會有疑問:表面數(shù)字化和三維測量不是一回事嗎?其實,區(qū)分兩種應(yīng)用的關(guān)鍵在于是否生成數(shù)字表面模型 (Digital Surface Model),也就是我們常說的點云或是三角網(wǎng)格。當然在很多實際應(yīng)用當中,生成的數(shù)字表面模型后續(xù)也會用于表面或特征元素測量,但這種測量模式是基于數(shù)字化后的零件模型,與傳統(tǒng)的直接測量特征元素還是有根本區(qū)別。

蔡司三坐標接觸式測頭與光學(xué)測頭的區(qū)別

對于表面數(shù)字化,其目的是要獲取零件表面輪廓,這就需要大量獲取輪廓的空間點坐標。而對于接觸式測頭來說,一個一個點逐次獲取的方式是無法勝任百萬數(shù)量級點數(shù)的要求的,哪怕是連續(xù)掃描測頭,也只是通過測頭不離開零件表面的方式來提高取點速度,本質(zhì)上還是單點采集。這類應(yīng)用當中,線光源和面光源測頭就很好彌補了接觸式測頭的不足,線掃描測頭通過一條由若干點的激光在工件表面移動,即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測頭則是通過一組編碼的光線柵格,一次性獲取一個特定大小區(qū)域內(nèi)的點云。 在得到了數(shù)字化表面模型后,用戶可以把數(shù)據(jù)用于各種目的,比如和CAD模型做對比,獲取零件整體/局部輪廓的偏差,三維尺寸測量或者逆向工程等等。但是這種測量方式用于尺寸與行為公差測量時,通常無法符合測量工藝流程的要求(如建立測量基準、選擇元素擬合方法、選取評價參考等等)。但是,有的零件或出于零件特殊性,如軟性材質(zhì)、不允許接觸的表面、微小特征等,或出于測量效率的要求,確實需要非接觸式測量。對于此類應(yīng)用,點光源測頭也很好彌補了接觸式測頭的不足。 其實,光學(xué)測頭相比接觸式測頭還有另一方面的優(yōu)勢。接觸式測頭采點時,測頭記錄的是測球中心的空間坐標,然后根據(jù)測球半徑來進行補償,得出實際點的坐標。但當測量特定位置的三維曲線時,如果不按照測點的法線方向去采點,會存在半徑補償余弦誤差;而如果按照測點的法線方向去采點,又會產(chǎn)生實際測點位置出現(xiàn)偏差的情況。這種情形在測量透平葉片時尤為常見。

▲ 接觸式測頭采點

非接觸式光學(xué)測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標,不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié),因此能夠完全杜絕余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者,在測量易變性零件時,雖然測力不大,但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片,測量頂部截面時,葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲,反之亦然)。雖然彎曲變形量不大,但是考慮到葉片本身極薄,其相對變形量還是非??捎^的,會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。

▲ 彎曲變形

除點測頭以外,面光源拍照式測頭也能具備三維測量能力,但是拍照式測頭在用作三維測量時,并不是基于獲得的點云來進行的,而是直接依靠捕捉的三維圖像提取被測元素。而且,當拍照式測頭用于三維測量時并不單獨使用,而是配合接觸式測頭一起,由接觸式測頭負責建立測量基準,而拍照式測頭則是針對一些特殊元素特征(例如孔、槽等)進行測量。 光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢,但并無法完全替代接觸式測頭,其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點,但光的傳播是沿直線的,我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”,必然有一些特征讓光線力所不能及,比如徑深比很小的孔、或是需要L型測針的場合,接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。

沒有最好的測頭,更沒有萬能的測頭,究竟怎么選擇最終還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前,應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向,也不一定要追求全能型的測頭,找到真正合適的產(chǎn)品,才能既快又好地做好質(zhì)量控制。

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標題:蔡司三坐標接觸式測頭與光學(xué)測頭的區(qū)別     本文地址:http://m.zaoshang.com.cn/article-2251.html
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